邱雅萍副教授專長於研發剖面掃瞄穿隧式顯微鏡（XSTM, Cross-sectional STM）的量測技術，進而探討新穎奈米材料的介面特性。對於當今最新穎的異質磊晶材料，提供最直接、最局域性、和最精細的介面科學（Hetero-interface Science）分析數據。  

有別於一般的掃瞄穿隧式顯微鏡（STM）對物質表面的研究，剖面掃瞄穿隧式顯微鏡（XSTM）的技術，是利用STM獲取原子級的空間解析度，並具有量測區域性電子特性的功能，使異質磊晶介面的結構形貌和電性量測，得以真實且直接記錄和觀察。近年來XSTM無論是運用在材料科學或是物理領域，都是一項重要且有效的量測技術。 

邱博士透過和新穎材料實驗室之間的合作，利用XSTM探研新穎奈米材料，包含半導體、複合氧化物、和有機高分子的異質結構的介面特性，取得相當多的重要成就。這些研究成果接續發表在國際一流的物理期刊上，包括(1) 探討金屬氧化物半導體電晶體中氧化物Gd2O3成長在半導體GaAs(100)間之介面物理 [Appl. Phys. Lett. 99, 212101(2011)]；(2)探討N型LaAlO3/TiO2-SrTiO3異質結構的介面電子特性[Phys. Rev. Lett. 109, 246807(2012)]；(3)利用掃瞄穿隧式顯微鏡量測太陽能電池材料P3HT與PCBM之間的介面特性[Nano Letters, 13, 2387(2013)]；(4)利用掃瞄穿隧式顯微鏡量測異質P-N矽奈米線之截面特性[ACS Nano 8, 8357(2014)]等。這些都是當前針對富有潛力的新穎材料的重要研究成果和發現。  

邱博士是純由本國培育出的新秀物理人才，首先引入剖面掃瞄穿隧式顯微探測技術，並予以發揚光大，用於探討異質磊晶結構的電子特性，如何因不同物質而演變，描繪出原子級精細的異質結構能帶圖，取得重大的研究成果。